產品訊息 | PL/EL検査装置
Omni-Pix 2.0
単一のmicroLEDに対して複数のテストを行う
*低電流EL検出(pA.pW)
*出光角度強度分布図
*ビーム強度パターン
*出光強度分布図(3 D図示)
*EQE、WLP、WLC、FWHM分析
*特徴分析(粗さ・傾斜角度・高さなど)
*Nano−PLによるナノスケール光強度分布図
*Nano−ELによるナノスケール光強度分布図
R-EL
microLED高速EL検出によるウエハ100%EL全検出可能
*Soft Touch方式で行い、microLEDにダメージなしのEL検出を実現
*NGの単一microLED位置を正確に表示
*microLEDのスペクトルが範囲内かどうかを判断する