產品訊息 | PL/EL検査装置

InZivは、現在最も重要な品質保証要件を満たすために、最先端の新しいディスプレイテストと検査デバイスを提供します。自社開発のナノスケール光学および計量装置を用いて、microLED、QLED、OLED業界の検出ニーズに対応できます。
InZivは、ディスプレイ製造プロセスを改善し、生産コストを削減し、すべての消費者がこれらのディスプレイをより迅速に使用できるようにするための最先端のツールを提供しています。
また、InZivは最近、microLEDウエハのELテストにかつてない速度を提供する工業級microLED検出システムR-ELを開発しました。InZivの独自技術は垂直およびフリップウェハ設計と完全に適合しており、ウェハを損傷することなく再現性の高い高精度ウェハ測定を提供することができます。高速EL検出は最も重要で信頼性の高いmicroLED検出を提供し、すべてのmicroLED応用を急速に発展させます。

Omni-Pix 2.0

単一のmicroLEDに対して複数のテストを行う
*低電流EL検出(pA.pW)
*出光角度強度分布図
*ビーム強度パターン
*出光強度分布図(3 D図示)
*EQE、WLP、WLC、FWHM分析
*特徴分析(粗さ・傾斜角度・高さなど)
*Nano−PLによるナノスケール光強度分布図
*Nano−ELによるナノスケール光強度分布図

R-EL

microLED高速EL検出によるウエハ100%EL全検出可能
*Soft Touch方式で行い、microLEDにダメージなしのEL検出を実現
*NGの単一microLED位置を正確に表示
*microLEDのスペクトルが範囲内かどうかを判断する

製品連絡先

Glen
昱凱科技股份有限公司
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