產品訊息 | PL/EL檢測設備

InZiv提供最先進的新型顯示器測試和檢驗設備,以滿足當今最關鍵的質量保證需求。使用專有的納米級光學和計量裝置,產品群組擴展到microLED,QLED和OLED技術。
InZiv提供最先進的工具,用於改進顯示器製造工藝,降低生產成本,並使所有消費者都能更快地使用到這些顯示器。
此外,InZiv最近開發了一種工業級microLED檢測系統R-EL,該系統為microLED晶圓的EL測試提供了前所未有的速度。InZiv的獨特技術與垂直和倒裝晶片設計完全相容,可提供重複性高的高精度晶片測量,而不會損壞晶片。快速EL檢測提供最關鍵和最可靠的microLED檢測,使所有microLED應用得以快速發展。

Omni-Pix 2.0

針對單顆microLED進行多項測試
*低電流EL檢測(pA.pW)
*出光角度強度分布圖
*光束強度型態圖
*出光強度分布圖(3D圖示)
*EQE、WLP、WLC、FWHM 分析
*表徵分析(粗糙度.斜角度.高度等)
*以Nano-PL進行納米級 光強度分布圖
*以Nano-EL進行納米級 光強度分布圖

R-EL

microLED高速EL檢測 實現晶圓100% EL全檢可能
*以Soft Touch方式進行,實現microLED無傷EL檢測
*精準標示NG的單顆microLED位置
*判斷microLED的光譜是否在範圍內

產品聯絡人

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昱凱科技股份有限公司
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